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ViProbe® II

ViProbe® II是 FEINMETALL 推出的一款垂直探针卡解决方案，专为半导体行业的高要求晶圆测试而设计。它在久经考验的 ViProbe® 基础上增加了额外选项，以延长使用寿命并增强对被测器件（DUT）的保护。

ViProbe® II 具有高可靠性、出色的信号完整性和安全的接触性能，因此特别适用于要求苛刻的半导体测试。

我们的探针卡 商业单元
FEINMETALL ViProbe II 词汇表

常见问题解答

它提供了延长使用寿命的选项，并在苛刻的测试条件下为被测设备提供了更好的保护。

ViProbe® II 用于半导体制造中的晶圆测试过程，在芯片被分离并进一步加工之前，先对晶圆上的芯片进行电气测试。

测试卡解决方案可用于各种半导体技术和晶圆类型，例如逻辑、模拟或混合信号应用。

更多术语

FeinProbe® LiProbe® Semiconductor Testing ViProbe® 探针卡 返回词汇表

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