ViProbe® II
ViProbe® II es una solución de tarjeta de prueba vertical (Probe Card) de FEINMETALL para pruebas exigentes de obleas en la Industria de Semiconductores. Amplía la probada ViProbe® con opciones adicionales para prolongar la vida útil y mejorar la protección del DUT (dispositivo bajo prueba).
ViProbe® II ofrece una alta fiabilidad, una excelente Integridad de la señal y un contacto seguro, lo que la hace especialmente adecuada para pruebas exigentes de semiconductores.
Preguntas frecuentes
Ofrece opciones para prolongar la vida útil y mejorar la protección del DUT en condiciones de prueba exigentes.
ViProbe® II se utiliza en el proceso de prueba de obleas de la fabricación de semiconductores para comprobar eléctricamente los chips en la oblea antes de separarlos y procesarlos.
La solución de tarjetas de prueba se puede utilizar para diferentes tecnologías de semiconductores y tipos de obleas, por ejemplo, para aplicaciones lógicas, analógicas o de señal mixta.
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