ViProbe® II
Die ViProbe® II ist eine vertikale Prüfkartenlösung (Probe Card) von FEINMETALL für anspruchsvolle Wafer-Tests in der Halbleiterindustrie. Sie erweitert die bewährte ViProbe® um zusätzliche Optionen zur Lebensdauerverlängerung und zum verbesserten Schutz des DUT (Device Under Test).
Sie bietet hohe Zuverlässigkeit, ausgezeichnete Signalintegrität und sichere Kontaktierung, wodurch sie sich besonders für anspruchsvolle Halbleiterprüfungen eignet.
FAQ
Sie bietet Optionen zur Lebensdauerverlängerung sowie verbesserten Schutz für das DUT bei anspruchsvollen Testbedingungen.
ViProbe® II wird im Wafer-Testprozess der Halbleiterfertigung eingesetzt, um Chips bereits auf dem Wafer elektrisch zu prüfen, bevor sie vereinzelt und weiterverarbeitet werden.
Die Prüfkartenlösung kann für verschiedene Halbleitertechnologien und Wafer-Typen eingesetzt werden, beispielsweise für Logik-, Analog- oder Mixed-Signal-Anwendungen.
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