ViProbe® II
ViProbe® II là giải pháp thẻ kiểm tra dọc (Probe Card) của FEINMETALL dành cho các thử nghiệm wafer đòi hỏi khắt khe trong Ngành bán dẫn. Sản phẩm này mở rộng ViProbe® đã được chứng minh hiệu quả bằng các tùy chọn bổ sung nhằm kéo dài tuổi thọ và bảo vệ DUT (Device Under Test) tốt hơn.
ViProbe® II mang lại độ tin cậy cao, tính toàn vẹn tín hiệu xuất sắc và kết nối an toàn, nhờ đó sản phẩm này đặc biệt phù hợp cho các thử nghiệm bán dẫn đòi hỏi khắt khe.
Câu hỏi thường gặp
Nó cung cấp các tùy chọn để kéo dài tuổi thọ và cải thiện khả năng bảo vệ DUT trong các điều kiện thử nghiệm khắc nghiệt.
ViProbe® II được sử dụng trong quy trình kiểm tra wafer trong sản xuất bán dẫn để kiểm tra điện tử các chip trên wafer trước khi chúng được tách riêng và tiếp tục xử lý.
Giải pháp thẻ kiểm tra có thể được sử dụng cho các công nghệ bán dẫn và loại wafer khác nhau, ví dụ như cho các ứng dụng logic, analog hoặc tín hiệu hỗn hợp.
Các thuật ngữ khác
Còn câu hỏi nào nữa không?
Cho dù là câu hỏi, đề xuất hay yêu cầu: Chúng tôi luôn sẵn sàng tư vấn và hỗ trợ.
