ViProbe® II
ViProbe® II est une solution de carte de test verticale (Probe Card) de FEINMETALL destinée aux tests de plaquettes exigeants dans l'Industrie des Semi-conducteurs. Elle complète la ViProbe® éprouvée en proposant des options supplémentaires visant à prolonger la durée de vie et à améliorer la protection du DUT (Device Under Test).
La ViProbe® II offre une grande fiabilité, une excellente intégrité du signal et une connexion sûre, ce qui la rend particulièrement adaptée aux tests exigeants sur les semi-conducteurs.
FAQ
Elle offre des options permettant de prolonger la durée de vie et d'améliorer la protection du DUT dans des conditions de test exigeantes.
ViProbe® II est utilisé dans le processus de test des plaquettes lors de la fabrication de semi-conducteurs afin de contrôler électriquement les puces sur la plaquette avant qu'elles ne soient séparées et transformées.
La solution de cartes de test peut être utilisée pour différentes technologies de semi-conducteurs et différentes familles de plaquettes, par exemple pour des applications logiques, analogiques ou à signaux mixtes.
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