Carte de Test
Une carte de Test est une unité de contact utilisée dans les systèmes de test automatisés afin de transmettre avec précision des signaux électriques entre le système de test et l'échantillon à tester, par exemple une plaquette ou un composant semi-conducteur. Elle contient des poignées de Test ou des structures de contact spéciales et permet une connexion reproductible de nombreux points de test simultanément. Les Cartes de Test sont conçues pour garantir une intégrité élevée du signal, un positionnement précis et des conditions de mesure stables.
La gamme FEINMETALL comprend différentes solutions de cartes de test, parmi lesquelles ViProbe®, ViProbe® II, FeinProbe® ou LiProbe®. Ces solutions utilisent diverses technologies de contact, telles que des Pointes de Test ou des contacts à lamelles MEMS, et sont conçues pour des applications exigeantes telles que les Tests de Wafers, les Tests Radiofréquence (RF) ou les Tests à Haut Courant (High Current Testing).
FAQ
Une carte de Test contient des poignées de Test, des structures de contact ou des technologies de contact spéciales pour une transmission précise des signaux.
Les cartes de Test doivent garantir un positionnement précis des points de contact, une intégrité élevée du signal, de faibles résistances de contact et une répétabilité parfaite dans le processus de test.
Les solutions de cartes de test proposées par FEINMETALL comprennent notamment ViProbe®, ViProbe® II, FeinProbe® et LiProbe®, qui ont été développées pour différentes applications de test de semi-conducteurs et de wafers.
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