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ウェーハテスト
ウェーハテストとは、半導体構造をウェーハ上で直接電気的に検査し、それを分離してさらに加工する前の段階を指します。その目的は、機能するチップを早期に特定し、歩留まりを最適化することです。
当社のファインピッチプローブは、ウェーハテストのプローブカードに使用されています。テストヘッドに組み込まれることで、正確で再現性の高い接触を保証し、お客様の生産性の最大化に大きく貢献しています。
よくある質問
プローブカードでは、ウェーハのパッドと正確に接触し、安定した、再現性の高い測定を可能にします。
典型的な試験パラメータは、機能性、リーク電流、抵抗、容量、高周波およびロジック機能などです。これらは、部品の種類によって異なります。
欠陥のあるチップを早期に識別することで、製造プロセスの効率と生産性を向上させます。
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