Thẻ Kiểm Tra
Thẻ Kiểm Tra là một đơn vị tiếp xúc được sử dụng trong các hệ thống kiểm tra tự động để truyền tín hiệu điện chính xác giữa hệ thống kiểm tra và đối tượng kiểm tra – ví dụ như một tấm wafer hoặc linh kiện bán dẫn. Thẻ này chứa các Chân Kim Tiếp Xúc hoặc cấu trúc tiếp xúc đặc biệt và cho phép tiếp xúc lặp lại nhiều điểm kiểm tra cùng một lúc. Thẻ Kiểm Tra được thiết kế để đảm bảo Tính toàn vẹn tín hiệu cao, định vị chính xác và điều kiện đo lường ổn định.
Trong danh mục sản phẩm của FEINMETALL có nhiều giải pháp thẻ kiểm tra khác nhau, bao gồm ViProbe®, ViProbe® II, FeinProbe® hoặc LiProbe®. Các giải pháp này sử dụng các công nghệ tiếp xúc khác nhau như Chân kim Tiếp Xúc Lò Xo hoặc tiếp xúc lá MEMS và được thiết kế cho các ứng dụng đòi hỏi cao như Kiểm tra Wafer, Kiểm tra tần số cao hoặc Kiểm tra dòng cao.
Câu hỏi thường gặp
Thẻ Kiểm Tra chứa các chân kim Tiếp Xúc, cấu trúc tiếp xúc hoặc công nghệ tiếp xúc đặc biệt để truyền tín hiệu chính xác.
Thẻ Kiểm Tra (Probe Cards) phải đảm bảo vị trí chính xác của các điểm tiếp xúc, tính toàn vẹn tín hiệu cao, Điện trở chuyển thấp và Khả năng lặp cao trong quá trình kiểm tra.
Các giải pháp thẻ kiểm tra của FEINMETALL bao gồm ViProbe®, ViProbe® II, FeinProbe® và LiProbe®, được phát triển cho các ứng dụng kiểm tra bán dẫn và wafer khác nhau.
Các thuật ngữ khác
Còn câu hỏi nào nữa không?
Cho dù là câu hỏi, đề xuất hay yêu cầu: Chúng tôi luôn sẵn sàng tư vấn và hỗ trợ.
