Prüfkarte
Eine Prüfkarte ist eine Kontaktierungslösung für Halbleiterprüfungen, die eine elektrische Verbindung zwischen Testsystem und Wafer oder Chip herstellt.
Sie enthält Kontaktstrukturen wie Nadeln (z. B. Cantilever- oder Vertikalnadeln) oder Federkontaktstifte, die präzise auf die Kontaktpads ausgerichtet sind und eine zuverlässige sowie reproduzierbare Kontaktierung ermöglichen.
Im Portfolio von FEINMETALL kommen unterschiedliche Prüfkartenlösungen zum Einsatz, darunter beispielsweise ViProbe®, FeinProbe® oder LiProbe®. Diese Lösungen nutzen verschiedene Kontakttechnologien wie Federkontaktstifte oder MEMS-Lamellenkontakte und sind für anspruchsvolle Anwendungen wie Wafertests, Hochfrequenztests oder Hochstromtests ausgelegt.
FAQ
Eine Prüfkarte enthält Kontaktstifte, Kontaktstrukturen oder spezielle Kontakttechnologien zur präzisen Signalübertragung.
Prüfkarten müssen eine präzise Positionierung der Kontaktpunkte, hohe Signalintegrität, geringe Übergangswiderstände sowie eine hohe Wiederholgenauigkeit im Testprozess gewährleisten.
Zu den Prüfkartenlösungen von FEINMETALL gehören unter anderem ViProbe®, ViProbe® II, FeinProbe® und LiProbe®, die für unterschiedliche Halbleiter- und Wafer-Testanwendungen entwickelt wurden.
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