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渐进式接触探针是“革新系列”中的一种接触探针，专为印刷电路板测试中苛刻的接触条件而设计。当测试点或焊接点因助焊剂残留、氧化层、OSP镀层或其他污染物而难以实现可靠接触时，即可使用该接触探针。
从技术角度来看，Progressive 接触探针结合了耐用的 Progressive 涂层、增强的弹簧预紧力以及合适的头型。这使得接触探针尖能够更好地穿透残留物，建立稳定的电气连接，并在多次接触过程中维持良好的接触质量。
在ICT 测试 和 功能测试中，渐进式接触探针有助于减少因接触不良导致的测量误差，延长使用寿命，并在恶劣条件下确保测试过程的稳定性。
当焊点或接触点因残留物、氧化层、OSP镀层或污垢而难以接触时，应使用该产品。
它结合了渐进式涂层、增强的弹簧预紧力以及合适的针头镀层和头型，能够可靠地接触到要求苛刻的接触点。
渐进式接触探针专为苛刻的接触条件而设计，它结合了渐进式镀层、增强的弹簧预紧力以及经过优化的头型，从而能够更可靠地接触到被污染或氧化的接触点。
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